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日本理研計器開爾文探針FAC-2

訪問次數:835

更新日期:2024-03-26

簡要描述:

日本理研計器開爾文探針FAC-2
專用于光刻樣品的開爾文探針
輕松設置樣品,無需微調電極和樣品之間的距離

日本理研計器開爾文探針FAC-2
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日本理研計器開爾文探針FAC-2

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特征

專用于光刻樣品的開爾文探針

輕松設置樣品,無需微調電極和樣品之間的距離

可在大氣中測量半導體樣品的費米能級

由于測量時間短,因此非常適合測量隨時間變化的情況,例如成膜或表面處理后金屬表面的變化。

目的

有機電子材料的費米能級測量

金屬和導電薄膜功函數的測量

日本理研計器開爾文探針FAC-2

產品分類

開爾文探針

模型

FAC-2

測量原理

開爾文法

測量零件尺寸

Φ10mm

測量能量范圍

3.4 至 6.2eV(使用功函數為 5.0eV 的參考樣品進行校準時)

測量時間

10 秒或更短(如果樣品是金屬)

重復性(標準差)

功函數0.02eV(樣品:金板)

溫濕度范圍

溫度范圍15-35℃,濕度20-60%RH

電源

AC100V,50/60Hz 5A(最大)

外形尺寸

約235(寬)×330毫米(高)×408(深)毫米

重量

約12公斤


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