評估搭載電子設(shè)備的耐性用阻尼振蕩波模擬試驗(yàn)器介紹
再現(xiàn)電壓逐步衰減的噪聲(衰減振蕩波)、評估搭載電子設(shè)備的耐性。
半導(dǎo)體開關(guān)的采用,跟以往比實(shí)現(xiàn)了高信賴性和高精度。
■輸出波形
■內(nèi)部電路
■試驗(yàn)方法(示意圖)
衰減振動波測試的案例
①標(biāo)準(zhǔn)接地板的框外放置本模擬器(簡稱本體)。
②本體背面部的AC IN上連接標(biāo)配的電線。
③本體HOT端子和接地端子上連接和被測物連接用線纜(HOT側(cè)要插入電容),連接用線纜另一方是要連接被測試的線束。
※連接用線纜由客戶自行準(zhǔn)備。
④在本體正面控制板面上設(shè)定電壓等諸條件進(jìn)行測試。
■耐高頻浪涌試驗(yàn)施加治具
跟電快速瞬變脈沖群模擬器、電壓阻尼振蕩波模擬器、高頻噪聲模擬器等組合使用、可在線束上注入噪聲的治具。
準(zhǔn)備了耦合各種容量的治具。詳細(xì)請咨詢。
采用半導(dǎo)體開關(guān)實(shí)現(xiàn)高精度的測試。
重復(fù)頻率在0.4Hz~400Hz的范圍內(nèi)可變。
可以容易切換耦合電容。
項(xiàng)目 | 規(guī)格 |
---|---|
輸出波形 | 衰減振蕩波 |
輸出電壓 | 100 V ~ 1500 V |
極性 | 正(第一個(gè)波)或負(fù)(短路桿切換) |
振蕩頻率 | 1.5MHz±0.2MHz |
到達(dá)半峰值時(shí)間 | 10 μs ±20 %(0.1kV~1.0kV) 10 μs ±40 %(1.0 kV~1.5 kV) |
輸出阻抗 | 50~200 Ω(可10 Ω間距設(shè)定) |
重復(fù)周期 | 0.4~400 Hz(3斷切換、連續(xù)可調(diào)) |
施加時(shí)間 | 1 s~10 min或連續(xù) |
耦合電容 | 100 pF/470 pF |
被測物(EUT)電源容量 | - |
電源 | AC100 V~240 V、50/60 Hz |
尺寸 | (W)430×(H)200×(D)400 mm |
重量 | 約7 kg |